关于微电子
从材料学的角度来看,微电子学可以分为三种类型的样品:
- 硅晶片
- 集成电路(IC)及其组件
- 印刷电路板(pcb)
从材料学的角度来看,微电子学可以分为三种类型的样品:
圆柱形硅锭的薄片在材料上被制备,通常用红外显微镜和红外光谱分析。
晶圆制造包括许多重复的过程,以在晶圆衬底表面生产完整的集成电子电路,然后将其切割成单个晶圆片。
在精确的材料抛光后,对未封装形式的晶圆的微小平行或横截面进行检查。集成电路中的细节是在光学显微镜或电子显微镜下研究的,这取决于分析的规模和类型。
圆柱形硅锭的薄片在材料上被制备,通常用红外显微镜和红外光谱分析。
晶圆制造包括许多重复的过程,以在晶圆衬底表面生产完整的集成电子电路,然后将其切割成单个晶圆片。在精确的材料抛光后,对未封装形式的晶圆的微小平行或横截面进行检查。集成电路中的细节是在光学显微镜或电子显微镜下研究的,这取决于分析的规模和类型。
1.微型维度需要专门的设备和配件,适合处理小样品。在切割和磨削等材料工艺中,对精度的要求对于微米范围内尺寸定义的样品也更为明显。
2.复合材料组合物在微电子学中很常见,其中软金属、陶瓷和复合材料通常紧密地组合在一起。这使得制备方法和参数的选择妥协,精心选择以满足特定的要求。
3.控制和准确的准备当小目标是检查的对象时,是需要的。具有高机械精度、光学测量单元和机械停止的解决方案是更基本的研磨和观察技术的现代自动化或优化解决方案。
根据需要调查的样品类型,切割可以在各种精密切割机上进行。
建议使用电镀金刚石砂轮切割塑料或树脂结合金刚石砂轮。
在任何情况下,切口都应该放置在离实际观察区域足够远的地方,以避免可能的直接损伤。剩下的材料可以在切片后小心地磨掉。这一初始步骤执行得越仔细,在陶瓷、芯片和玻璃中引入裂纹或引起分层或焊点的可能性就越小。
PCB板片的提取,采用专用的采样设备。自动化和光学测量技术可以高精度地钻削和定位。对于敏感或小的样品,建议在切割前对样品进行浸渍。
建议采用低温固化的冷安装树脂,以避免热对焊料和聚合物的影响。对于小的或脆的样品,如硅片,低收缩率树脂是首选,以减少裂缝的风险。
安装方法取决于所使用的分析方法。
例如,对于专用系统,组件可以直接安装在用于检查或靶材制备的特殊样品支架中。
对于微电子的手动和半自动研磨和抛光,可以使用常规设备。校准样品和控制材料去除由特殊的样品夹确保,作为手动研磨和观察方法的更准确的替代方案。
薄而脆的硅晶圆的平行和横截面,铅或锡的焊料球阵列,在脆性陶瓷或延展性聚合物衬底上镀铜通孔的pcb,以及在几百微米内与硅、陶瓷、金、铜、铝和锡的ic横截面,都是在选择研磨和抛光方法时需要考虑的材料组合示例。
对去除率、平整度、浮雕度、边缘保留和涂抹的要求通常决定了研磨和抛光表面和悬浮液的选择。在电子元件的e-Metalog中发现了大约25种专用方法,涵盖了广泛的材料组合和制备要求。